摘要：从频域和时域两个维度研究表面等离激元耦合系统在强耦合与弱耦合区域的特性,在理论上研究给定参数的表面等离激元耦合系统的本征频率、损耗以及亮暗模式随耦合强度的演化。在频域上对门结构在强耦合区域的杂化模式特征、散射光谱特性、偶极子与四极子模式的劈裂情况进行数值计算;在时域上,由于激发出两个不同频率的杂化模式叠加形成拍频,利用拍频信号周期可以精确地给出杂化模式的频率,得到散射光谱对应的频率不是精确的模式频率的结论。通过扫描耦合距离观察模式演化,找到奇异点所处区域,通过系统的频域响应拟合,确定奇异点的位置。在弱耦合区域,时域计算给出亮暗模式分别按自身衰减速率衰减的预期结果。
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