摘要：易风化晶体离开母液就会风化并失去结晶溶剂,导致结构塌陷,由单晶变成粉末,从而无法完成测试.X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统利用晶体在低温下比较稳定的原理,通过维持选样与上样过程中的低温环境,使易风化晶体能够得以测试,从根本上解决了风化晶体的测试问题.系统的研制为易风化晶体化合物结构的测试提供有力的技术保障,是单晶衍射仪功能开发的重要技术创新.
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期刊名称：分析测试技术与仪器
分析测试技术与仪器杂志紧跟学术前沿，紧贴读者，国内刊号为：62-1123/O6。坚持指导性与实用性相结合的原则，创办于1992年，杂志在全国同类期刊中发行数量名列前茅。
