摘要：针对微型磁瓦图像对比度低、纹理背景复杂、亮度不均匀、缺陷区域小等特点,本文提出了一种微型磁瓦表面线缺陷视觉检测方法。首先,构造自适应静态掩膜,屏蔽微型磁瓦轮廓;其次,采用非线性各向异性扩散方程,抑制微型磁瓦表面纹理;进而,构造动态掩膜自下而上扫描磁瓦图像,提取线缺陷区域;最后,在开发的微型磁瓦视觉检测实验装置上,进行了大量的实验研究。实验结果表明,本文缺陷提取算法能够较准确提取出磁瓦表面图像的线缺陷,表面缺陷检测的准确率为94.6%。
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