摘要：对取向电工钢SST（82）和SST（92）单片测试方法的差异进行分析,并对两者间的测量偏差进行量化评价。结果表明：SST（92）单片测试方法测量比总损耗较SST（82）平均偏高5.03%左右,这主要是因为SST（82）单片测试方法的有效磁路长度不固定,且离散性较大,而有效磁路长度主要跟单片磁轭有关。另外,直接测量试样磁场强度的H线圈方法由于规避了有效磁路长度的影响,可视为一种可靠的替代方法。
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